步入式分體高低溫試驗倉應用廣泛，有資料證明，52%的電子產品故障是由于環(huán)境效應引起的。因此這也是電子產品投放到市場之前，必須經過很嚴格的環(huán)境測試，以檢測環(huán)境對電子產品的影響程度和可靠性，在測試電子產品環(huán)境實驗方面恒溫恒濕試驗箱起到了至關重要的作用。

一、結構特點：

 1、試驗箱底部采用高品質可固定式PU活動輪；

 2、水路系統管路電路系統采用門式開啟，方便維護和檢修；

 3、箱體采用數控機床加工成型，造型美觀大方，并采用無反作用把手，操作簡便；

 4、補水箱置于控制箱體右下部，并有缺水自動保護，更便利操作者補充水源；

 5、箱體左側配直徑25mm或50mm或100mm的測試孔，可供外接測試電源線或信號線使用；

 6、加濕系統管路與控制線路板分開，可避免因加濕管路漏水發(fā)生故障，提高安全性；

 7、設有獨立限溫報警系統，超過限制溫度及自動中斷運行，保證試驗安全進行不發(fā)生意外；

 8、設有大型觀測視窗附照明燈保持箱內明亮，且利用發(fā)熱體內嵌式鋼化玻璃，隨時清晰的觀測箱內狀況；

 9、保溫材質采用高密度玻璃纖維棉，厚度為80~100mm。門與箱體之間采用雙層耐高低溫之高張性密封條，以確保測試區(qū)的密封；

 10、內箱采用**不銹鋼（SUS304）鏡面板，外箱采用（SUS304）拉絲不銹鋼板或優(yōu)質冷軋鋼板噴塑，增加了外觀質感和潔凈度。

二、主要技術參數：

三、步入式分體高低溫試驗倉 執(zhí)行滿足標準及試驗方法：

 1、GB11158-2008高溫試驗箱技術條件；

 2、GB10589-2008低溫試驗箱技術條件；

 3、GB10592-2008高低溫試驗箱技術條件（溫度交變）；

 4、GJB150.3A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法*3部分：高溫試驗；

 5、GJB150.4A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法*3部分：低溫試；

 6、GB/T2423.1-2008電工電子產品環(huán)境試驗*2部分：試驗方法 試驗A:低溫(IEC60068-2-1:2007)；

 7、GB/T2423.2-2008電工電子產品環(huán)境試驗*2部分：試驗方法 試驗B:高溫(IEC60068-2-1:2007)；

 8、GB/T2423.22-2002電工電子產品環(huán)境試驗*2部分：試驗方法 試驗N:溫度變化(IEC60068-2-14)。